WEETECH 的背板/主機殼測試解決方案專為背板和底板的開路、短路、元器件測試而設計。
獨特的利用先進的外部主體設計，省去了原本測試需要的待測物複雜接線以及接頭。
此外，我們的電晶體開關設計在測試速度遠遠優於競爭對手，
即使是眾多的測試點也能提供最有效率的測試速度。
具有極佳的測試速度與量測準確度，並有輕易擴展測試點數及操作簡易的特點。
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